Il testing dei componenti per lo spazio

In spazio aperto l-elettronica fatica a svolgere i propri compiti per via di tanti fattori incluse le radiazioni nucleari dell-universo. Proprio a causa di cio, la Texas Instruments attua delle misure su campioni di wafer per assicurare la resistenza dei componenti alla dura vita spaziale.

I test vengono svolti con componenti provenienti dalla stessa Fab per minimizzare le variazioni intrinseche nei materiali finali; Essi sono accertati mediante robuste procedure, che consentono alla stessa TI di rilasciare componenti accertati per uso in spazio aperto
Le procedure sono divisibili in due rami, il primo e ‘ la caratterizzazione dei componenti stessi e il secondo e ‘ il RLAT (radiation lot acceptance testing). Questo significa che i componenti vengono accertati per un certo funzionamento ad un certo livello di radiazioni e in seguito vengono testati nei casi peggiori cioe ‘ ad alte dose di radiazioni.
Cio’ consente di rilasciare prodotti(IC) di qualita e sicurezza maggiore (RHA) per i clienti che andranno nello spazio.

Links
https://training.ti.com/radiation-hardness-assurance-rha-process-ti-space-products